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随着技术的发展，光学薄膜的光学性能也在厂家的不断提高，市场需要更好的产品，其中在液晶面板吃起的成产中，也液晶贴的的一层膜的配向角度的优良很大程度上影响生产出来的液晶面板的显示效果的好坏。关于如何了解这一层配向膜（PI）的配向角度，研发人员一直没有合适设备来测量， 近期，日本的phl厂家带来一款通过测量双折射的方法来检测配向角度的设备。

测量示例：

通过WPA-200的检测，可以知道产品的双折射大小和方向，内应力的分布情况，在经过分析得到数据。